用途：
　    INSPECT系列测量金相显微镜适用于半导体封装、焊接贴片、环路高度、FPD面板（LCM）、晶片级CSP等领域。

　仪器特点：
　　■高精度大理石底座和立柱、有效保证极高的稳定性及刚性
　　■大理石工作台设计、配合精密V型交叉导轨、长久使用不会变形，有效保证极高的机械精度
　　■高品质光学系统和高分辨率CCD，确保拥有高品质的测量画面
　　■三环八区LED环形表面冷光源及轮廓光源、避免灯光发热而影响精密工件的变形
　　■测量金相显微镜可选配日本尼康原装倾斜三目镜筒+五段变倍鼻轮
　　■自主研发影像测量仪软件、功能强大、操作简单